【導(dǎo)讀】是德科技公司近日推出一款PCI Express 協(xié)議訓(xùn)練器U4305B，專門面向 PCIe Gen3 系統(tǒng)開發(fā)工程師。U4305B 可提供多種 PCIe 測(cè)試工具，以驗(yàn)證所有鏈路（多達(dá) 16 個(gè)）的 Gen1、Gen2 以及Gen3 工作性能。這些測(cè)試工具可滿足 PCIe 開發(fā)人員的各種需求，所提供的測(cè)試方法可用于測(cè)試 NVMe（Non-Volatile Memory Express）和 L1子狀態(tài)工作等新技術(shù)。
從早期 PCIe 實(shí)施開始，低功耗狀態(tài)就是開發(fā)人員必須關(guān)注的一項(xiàng)重要特性?，F(xiàn)在，PCIe 為測(cè)試低功耗（稱為 L1 子狀態(tài)）制定了新的標(biāo)準(zhǔn)。使用邊帶信號(hào) CLKREQ# 使器件可以關(guān)閉時(shí)鐘甚至消除保持電壓，相對(duì)以前進(jìn)一步降低PCIE設(shè)備的功耗水平。U4305B 訓(xùn)練器專為驗(yàn)證這些低功耗特性而設(shè)計(jì)。內(nèi)置測(cè)試平臺(tái)使用戶可以對(duì) PCIe 或 NVMe 操作實(shí)施自動(dòng)測(cè)試。該測(cè)試平臺(tái)配有腳本程序，可以驗(yàn)證 ASPM 或 PCI-PM L1 子狀態(tài)的操作。這些預(yù)先編寫的測(cè)試腳本可以訓(xùn)練各種狀態(tài)，以獲得關(guān)于控制寄存器操作和每個(gè)進(jìn)入 L1 子狀態(tài)/恢復(fù)操作的合格/失敗測(cè)試結(jié)果。
U4305B 還提供了 LTSSM 測(cè)試套件。該套件使工程師可以執(zhí)行鏈路協(xié)商測(cè)試，進(jìn)而對(duì)被測(cè)設(shè)備的 LTSSM 功能執(zhí)行全方位測(cè)試。它還能夠驗(yàn)證 PCIe 狀態(tài)轉(zhuǎn)換和狀態(tài)超時(shí)。最多可提供超過 50 種預(yù)定義 LTSSM 測(cè)試項(xiàng)對(duì)被測(cè)設(shè)備的工作進(jìn)行全面測(cè)評(píng)。
是德科技副總裁兼示波器和協(xié)議事業(yè)部總經(jīng)理 Dave Cipriani 表示：“U4305B 訓(xùn)練器為 PCIe 開發(fā)人員提供了更高水平的測(cè)試功能。PCIe 設(shè)備的研發(fā)需要深入的洞察力，我們的客戶需要強(qiáng)大的工具幫助他們開發(fā)最先進(jìn)的產(chǎn)品。”
在測(cè)試 NVMe 方面，U4305B 訓(xùn)練器可以仿真主機(jī)或設(shè)備以提交和執(zhí)行 NVMe 命令，或創(chuàng)建錯(cuò)誤測(cè)試序列。標(biāo)準(zhǔn)化的 NVMe 測(cè)試不僅可以改善與規(guī)范的一致性，增強(qiáng)設(shè)備的互操作性，還可以提供直觀和詳細(xì)的項(xiàng)目測(cè)試幫助開發(fā)人員洞察設(shè)備工作，進(jìn)而縮短測(cè)試時(shí)間。是德科技采用了新罕布什爾大學(xué)（UNH）互操作性實(shí)驗(yàn)室（IOL）定義的 NVMe 一致性測(cè)試。這些測(cè)試可以提供合格/失敗/警告測(cè)試結(jié)果及詳細(xì)的診斷信息，以便改善 NVMe 驗(yàn)證質(zhì)量。
是德科技還提供了 PCI SIG® 組織定義的標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議測(cè)試卡，工程師可以通過它獲得全套合格/失敗測(cè)試結(jié)果來驗(yàn)證 PCIe設(shè)備 工作。相同的 PTC 測(cè)試套件 PCI-SIG 測(cè)試插拔大會(huì)中使用,是推薦測(cè)試產(chǎn)品。
工程師可以配置 Keysight U4305B 訓(xùn)練器，對(duì)傳統(tǒng)和新一代 PCIe 設(shè)備的子協(xié)議層實(shí)施測(cè)試和調(diào)試。U4305B PCIe 訓(xùn)練器是一款先進(jìn)的流量生成器，開發(fā)人員可以用它來發(fā)送和響應(yīng) TLP、DLLP 和物理層數(shù)據(jù)包，以激勵(lì) PCIe 設(shè)備和系統(tǒng)。
U4305B 還能夠與是德科技的其他儀器（例如 U4301B PCIe 協(xié)議分析儀）結(jié)合，構(gòu)成完整的PCIE協(xié)議測(cè)試系統(tǒng)。工程師可以同步分析儀和訓(xùn)練器的測(cè)試操作，甚至使用 U4301B 分析儀捕獲數(shù)據(jù)并在 U4305B 訓(xùn)練器上回放。
是德科技針針對(duì) PCIe 分析儀和訓(xùn)練器的增強(qiáng)確保工程師擁有全套測(cè)試工具。例如，是德科技已經(jīng)實(shí)施了的 L1 子狀態(tài)測(cè)試、數(shù)據(jù)回放和測(cè)試同步，是對(duì) PCIe 設(shè)備執(zhí)行全面的測(cè)試和驗(yàn)證的利器。
